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多晶硅基體金屬雜質檢測

電子級多晶硅金屬雜質含量是評價其產品質量的重要指標之一，其雜質含量的高低直接影響下游晶圓制造產品質量，所以對其金屬雜質含量的控制至關重要。萊伯泰科提供可靠、易用的 ICP-MS產品，擁有良好的精度，可實現多晶硅金屬元素雜質準確分析，確保制造商始終能夠生產出高品質的產品。
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